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Microscopia elettronica a trasmissione (TEM)

Il laboratorio dotato di un microscopio elettronico a trasmissione a scansione (TEM/STEM) , 200kV sorgente a emissione di campo (FEG)

Alcune applicazioni:

  • caratterizzazione ad altissimo ingrandimento della microstruttura di metalli, ceramici, polimeri, materiali biologici
  • osservazione di materiali nanostrutturati
  • identificazione di difetti nei cristalli (es. dislocazioni)
  • identificazione di fasi cristalline di precipitati

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Il microscopio elettronico a trasmissione uno strumento fondamentale per la caratterizzazione dei materiali di tutti i tipi: biologici, polimerici metallici e ceramici. Consente di esaminare le strutture dei materiali fino a risoluzione atomica e contemporaneamente di avere informazioni chimiche e cristallografiche da aree del materiale sub micrometriche. In un microscopio elettronico a trasmissione TEM, gli elettroni, che costituiscono il fascio, attraversano il campione che deve avere uno spessore estremamente ridotto, compreso tra 50 e 500 nm. Il fascio di elettroni, ad alta energia, passa attraverso un complesso sistema di lenti elettromagnetiche, poste nella colonna elettroottica, che hanno la funzione di controllarlo in modo da ottenere un?immagine ingrandita della porzione di campione attraversata, con risoluzioni che arrivano alle frazioni di nanometri. L’immagine viene proiettata su uno schermo fluorescente oppure catturata da una telecamera, se il microscopio ne dotato. Per potere avere funzioni analitiche e cristallografiche su piccola area il TEM deve avere anche il sistema di deflessione del fascio cio essere uno STEM microscopio elettronico a trasmissione a scansione.