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DIFFRAZIONE RAGGI X

 

Diffrattometro di raggi X per l’individuazione di composti, in materiali policristallini, attraverso l’analisi dei picchi di diffrazione. L’aggiunta del sistema per film sottili consente di migliorare la qualit dell’analisi su depositi superficiali con spessori dell’ordine delle centinaia di nanometri o inferiori.

I principali utilizzi comprendono:

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La diffrattometria di raggi X si basa sulla diffrazione della radiazione dai piani cristallografici secondo la legge di Bragg 2dsin? = n?. Nella configurazione per polveri (configurazione Bragg-Brentano) permette di identificare composti cristallini in un preparato costituito da polvere di granulometria inferiore ai 50 um. Il metodo viene utilizzato anche per campioni compatti che, comunque, sono costituiti da cristalliti (zone cristalline che diffrangono indipendentemente).
L’analisi qualitativa di un materiale viene ottenuta mediante comparazione con i dati raccolti nel database JCPDS International Centre for Diffraction Data, i metodi per eseguire il riconoscimento possono essere manuali (il pi comunemente utilizzato il metodo Hanawalt) oppure automatici con programmi di “search-match”. L?analisi quantitativa viene condotta con software dedicato basato sul metodo Rietveld.
Nella configurazione “film-sottili” il fascio incidente quasi radente alla superficie (si utilizzano angoli ? ? 2 e si mantiene ? fisso) e si raccoglie un fascio di raggi diffratti paralleli. Se sul campione presente un deposito di spessore variabile tra i 100 nm e 500 nm, si ottiene un miglioramento dell?analisi del deposito in quanto, riducendo la penetrazione del fascio nel campione, si diminuisce il contributo di background costituito dai picchi del substrato.